凯智通DDR内存条测试治具
动态存储器是由多个IC组成的微型集成电路，IC在长时间运作下很容易影响IC的寿命，导致系统故障，目前的IC的体积越来越小，也更容易受到环境因素的损害，尤其是在高温运行中，或者是灰尘的侵害也有可能导致运行不稳定， 一个晶圆中可能有品质好的 IC ，也肯定有不好的 。这样也会导致系统运作不稳定
在CPU的运行中会产生高温，高温工作对内存条芯片也是一种极大考验，长时间高温也是芯片不稳定的因素，
内存条一般需要经过两个级别的测试，以确保最大的可靠性：
1. 先进的IC级别的测试，筛选具有最佳可靠性和质量特性的 IC，适用于需要大幅度的高低温测试可靠性测试。
2. 增强的整内存条级测试：老化测试 (TDBI) 和自动测试设备 (ATE) 保证模块达到甚至超过合格参数。

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2. 增强的整内存条级测试：老化测试 (TDBI) 和自动测试设备 (ATE) 保证模块达到甚至超过合格参数。