凯智通 大小SD卡金点转DIP48测试座，翻盖探针测试座 手机SD卡芯片测试座，采用手动翻盖式结构，操作方便；产品通用程度高，只要换限位框，即可测试所有引脚相同，外形尺寸不同的SD卡；上盖的压板采用特殊结构，下压平稳，保证SD卡的压力均匀，不移位；高精度的定位槽，保证SD卡定位精确，生产效率高；配不同的主探板，可实现芯邦，UT165，安国，SMI,NETWORK方案可互换！

凯智通 TF卡24转48pin双头针测试座，TF卡翻盖探针测试座 TF卡芯片测试座，产品通用程度高，只要换限位框，即可测试所有引脚相同，外形尺寸不同的TF卡；上盖的压板采用特殊结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位，高精度的定位槽，保证TF卡定位精确，配不同的主探板，可实现芯邦，UT165，安国，SMI,NETWORK方案可互换！此类TF卡引脚有19、24、27PIN三种规格，分别为8bit和16bit※探针材料：铍铜(标准)；探针可更换，绝缘材料：FR-4、PPS等；最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离）

凯智通 BGA132 152测试座，SSD测8CE读取测试座 SSD固态硬盘,BGA152翻盖弹片转DIP96测试座是我公司为了FLASH行业研发的低成本，翻盖操作取换芯片简单成为最高性价比的测试座，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进口铍铜镀金有良好的伸缩性能，特殊的月牙形针头，更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点：我们的可以有球无球残球均可测试！我们市场大部分flash产品的测试都是采用我们公司定义的DIP48这个标准脚位，可以插安国，芯邦，硅格，SMI，迈科微，建荣的任意测试板都可以测试，为客户节约最大的成本！（常见尺寸 14*18）!另外我公司有TSOP48双触点测试座，BGA107/100/132/137/149/152/169/162/LGA52\60各类转DIP48/SD/USB接口测试座）