connector摄像头模组测试座
1 采用手动翻盖式结构,操作方便;
2 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
3 高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位精确,测试效率高;
4 测试频率可达9.3GHz;
5 用途:集成电路应用功能验证测试;
6 可根据用户要求定做各种阵列的socket
7 有翻盖式结构和双扣结构两种方式可供选择,操作方便;
8 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
9 探针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球;
10 用途:集成电路应用功能验证测试;
11 可根据用户要求定做各种阵列的socket
1 采用手动翻盖式结构,操作方便;
2 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
3 高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位精确,测试效率高;
4 测试频率可达9.3GHz;
5 用途:集成电路应用功能验证测试;
6 可根据用户要求定做各种阵列的socket
7 有翻盖式结构和双扣结构两种方式可供选择,操作方便;
8 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
9 探针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球;
10 用途:集成电路应用功能验证测试;
11 可根据用户要求定做各种阵列的socket
EMMC153(95pin)-0.5下压探针测试座(UFS)
测试座(夹具)特点:
①下压(按压式结构),适配于自动化设备气缸、机械手使用,大大提高烧录测试效率。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,从而使测试 更稳定,频率更高。
④测试(老化)PCB与Socket采用定位销定位及防呆,采用螺丝连接、固定,拆卸、维护简单方便。
测试座(夹具)特性
①结构:下压式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大;
⑦接触电阻:<100mΩ;
⑧环境温度:-55℃~155℃;
⑨机械寿命:100000;
测试座(夹具)特点:
①下压(按压式结构),适配于自动化设备气缸、机械手使用,大大提高烧录测试效率。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,从而使测试 更稳定,频率更高。
④测试(老化)PCB与Socket采用定位销定位及防呆,采用螺丝连接、固定,拆卸、维护简单方便。
测试座(夹具)特性
①结构:下压式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大;
⑦接触电阻:<100mΩ;
⑧环境温度:-55℃~155℃;
⑨机械寿命:100000;
下压探针老化座
测试座(夹具)特点:
①下压(按压式结构),适配于自动化设备气缸、机械手使用,大大提高烧录测试效率。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,从而使测试 更稳定,频率更高。
④测试(老化)PCB与Socket采用定位销定位及防呆,采用螺丝连接、固定,拆卸、维护简单方便。
测试座(夹具)特性
①结构:下压式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大;
⑦接触电阻:<100mΩ;
⑧环境温度:-55℃~155℃;
⑨机械寿命:100000;
测试座(夹具)特点:
①下压(按压式结构),适配于自动化设备气缸、机械手使用,大大提高烧录测试效率。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,从而使测试 更稳定,频率更高。
④测试(老化)PCB与Socket采用定位销定位及防呆,采用螺丝连接、固定,拆卸、维护简单方便。
测试座(夹具)特性
①结构:下压式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大;
⑦接触电阻:<100mΩ;
⑧环境温度:-55℃~155℃;
⑨机械寿命:100000;
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